Aantekeningen (1) In deze subklasse is de prioriteitsregel voor de eerste plaats van kracht, d.w.z. op elk hiërarchisch niveau wordt geklasseerd in de eerst toepasselijke plaats, tenzij anders staat vermeld. [15] (2) (REDACTIE) [10] In deze subklasse worden de volgende afkortingen gebruikt: AFM Atomic Force Microscopy Microscopie met atoomenergie MFM Magnetic Force Microscopy Microscopie met magneetkracht SCM Scanning Capacitance Microscopie Microscopy met capacitaire aftasting SECM Scanning Electro-Chemical Microscopie Micriscopy met electro- chemische aftasting SEM Scanning Electron Microscopy Microscopie met elektronenaftasting SICM Scanning Ion-Conductance Microscopie met Microscopy ionengeleidings- aftasting SNOM Scanning Near-field Optical Microscopie met Microscopy optische nabij- heidsaftasting SPM Scanning Probe Microscopy Microscopie met aftastsondes STM Scanning Tunneling Microscopie met Microscopy tunnelaftasting SThM Scanning Thermal Microscopy Microscopie met warmte-aftasting STP Scanning Tunneling Potentiometrie Potentiometry met tunnel- aftasting STS Scanning Tunneling Spectroscopie Spectroscopy met tunnel- aftasting
G01Q 10/00
Aftastvoorzieningen of positioneervoorzieningen, d.w.z. voorzieningen voor het actief regelen van de beweging of positie van de sonde [10]
G01Q 10/02
Grove aftasting of positionering [10]
G01Q 10/04
Fijne aftasting of positionering [10]
G01Q 10/06
Schakelingen of algoritmen daarvoor [10]
G01Q 20/00
Bewaken van de beweging of positie van de sonde [10]
G01Q 20/02
door optische middelen [10]
G01Q 20/04
Zichzelf detecterende sondes, d.w.z. waarin de sonde zelf een signaal opwekt dat representatief is voor haar positie, bijv. een piëzo-elektrische meter [10]
G01Q 30/00
Hulpmiddelen die dienen ter ondersteuning of verbetering van de aftastsonde-technieken of aftastsonde-apparatuur, bijv. weergeefinrichtingen of gegevensverwerkingsinrichtingen [10]
G01Q 30/02
Analyse-inrichtingen anders dan met SPM (microscopie met aftatssondes), bijv. een SEM (microscopie met elektronenaftasting), een spectrometer of een optische microscoop [10]
G01Q 30/04
Weergeefinrichtingen of gegevensverwerkingsinrichtingen [10]
G01Q 30/06
om fouten te compenseren [10]
G01Q 30/08
Middelen voor het tot stand brengen of regelen van een gewenste omgevingstoestand binnen een monsterkamer [10]
G01Q 30/10
Warmte-omgeving [10]
G01Q 30/12
Fluïdumomgeving [10]
G01Q 30/14
Vloeistofomgeving [10]
G01Q 30/16
Vacuümomgeving [10]
G01Q 30/18
Middelen voor het beschermen of isoleren van de binnenzijde van een monsterkamer tegen externe omgevingstoestanden of omgevingsinvloeden, bijv. trillingen of elektromagnetische velden [10]
G01Q 30/20
Inrichtingen of methoden voor het hanteren van monsters [10]
G01Q 40/00
IJken, bijv. van sondes [10]
G01Q 40/02
IJkstandaarden of vervaardigingsmethoden daarvan [10]
G01Q 60/00
Bijzondere soorten SPM (microscopie met aftastsondes) of apparatuur daarvoor; Essentiële onderdelen daarvan [10]
G01Q 60/02
Meervoudige SPM (Microscopie met aftastsondes), d.w.z. waarbij sprake is van twee of meer SPM-technieken [10]
G01Q 60/04
STM (microscopie met tunnelaftasting) gecombineerd met AFM (microscopie met atoomenergie) [10]
G01Q 60/06
SNOM (microscopie met optische nabijheidsaftasting) gecombineerd met AFM (microscopie met atoomenergie) [10]
G01Q 60/08
MFM (microscopie met magneetkracht) gecombineerd met AFM (microscopie met atoomenergie) [10]
G01Q 60/10
STM (microscopie met tunnelaftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. STM-sondes [10]
G01Q 60/12
STS (spectroscopie met tunnelaftasting) [10]
G01Q 60/14
STP (potentiometrie met tunnelaftasting) [10]
G01Q 60/16
Sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, bijv. houders [10]
G01Q 60/18
SNOM (microscopie met optische nabijheidsaftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. SNOM-sondes [10]
G01Q 60/20
Fluorescentie [10]
G01Q 60/22
Sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, bijv. houders [10]
G01Q 60/24
AFM (microscopie met atoomenergie) of apparatuur daarvoor, bijv. AFM-sondes [10]
G01Q 60/26
Microscopie met wrijvingskrachten [10]
G01Q 60/28
Microscopie met hechtingskrachten [10]
G01Q 60/30
Microscopie met potentiaalaftasting [10]
G01Q 60/32
Wisselstroommodus [10]
G01Q 60/34
Aftakmodus [10]
G01Q 60/36
Gelijkstroommodus [10]
G01Q 60/38
Sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, bijv. houders [10]
G01Q 60/40
Geleidende sondes [10]
G01Q 60/42
Functionalisering [10]
G01Q 60/44
SICM (microscopie met ionengeleidingsaftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. SICM-sondes [10]
G01Q 60/46
SCM (microscopie met capacitaire aftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. SCM-sondes [10]
G01Q 60/48
Sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, bijv. houders [10]
G01Q 60/50
MFM (microscopie met magneetkracht) of apparatuur daarvoor, bijv. MFM-sondes [10]
G01Q 60/52
Resonantie [10]
G01Q 60/54
Sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, bijv. houders [10]
G01Q 60/56
Sondes met een magnetische coating [10]
G01Q 60/58
SThM (microscopie met warmte-aftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. SThM-sondes [10]
G01Q 60/60
SECM (microscopie met elektrochemische aftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. SECM-sondes [10]
G01Q 70/00
Algemene aspecten van SPM (microscopie met aftastsondes) sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, voorzover zij niet speciaal zijn aangepast aan één enkele SPM-techniek die valt onder de groep G01Q 60\5 [10]
G01Q 70/02
Sondehouders [10]
G01Q 70/04
met compensatie voor temperatuurfouten of trilfouten [10]
G01Q 70/06
Sondepunt-rijen [10]
G01Q 70/08
Sondekenmerken [10]
G01Q 70/10
Vorm of verloop [10]
G01Q 70/12
Nanobuispunten [10]
G01Q 70/14
Bijzondere materialen [10]
G01Q 70/16
Sondevervaardiging [10]
G01Q 70/18
Meervoudige [10]
G01Q 80/00
Toepassingen van aftastsondetechnieken, anders dan met SPM (microscopie met aftastsondes) (produceren of behandelen van microstructuren B81C; produceren of behandelen van nanostructuren B82B 3\5; registreren of reproduceren van informatie gebruikmakend van nabijheidsinteractie G11B 9\5, G11B 11\5 of G11B 13\5) [10]
G01Q 90/00
Niet elders ondergebrachte aftastsonde-technieken of aftastsonde-apparatuur [10]