Aantekeningen (1) In deze subklasse is de prioriteitsregel voor de eerste plaats van kracht, d.w.z. op elk hiërarchisch niveau wordt geklasseerd in de eerst toepasselijke plaats, tenzij anders staat vermeld. [15] (2) (REDACTIE) [10] In deze subklasse worden de volgende afkortingen gebruikt: AFM Atomic Force Microscopy Microscopie met atoomenergie MFM Magnetic Force Microscopy Microscopie met magneetkracht SCM Scanning Capacitance Microscopie Microscopy met capacitaire aftasting SECM Scanning Electro-Chemical Microscopie Micriscopy met electro- chemische aftasting SEM Scanning Electron Microscopy Microscopie met elektronenaftasting SICM Scanning Ion-Conductance Microscopie met Microscopy ionengeleidings- aftasting SNOM Scanning Near-field Optical Microscopie met Microscopy optische nabij- heidsaftasting SPM Scanning Probe Microscopy Microscopie met aftastsondes STM Scanning Tunneling Microscopie met Microscopy tunnelaftasting SThM Scanning Thermal Microscopy Microscopie met warmte-aftasting STP Scanning Tunneling Potentiometrie Potentiometry met tunnel- aftasting STS Scanning Tunneling Spectroscopie Spectroscopy met tunnel- aftasting

• G01Q 10/00

  Aftastvoorzieningen of positioneervoorzieningen, d.w.z. voorzieningen voor het actief regelen van de beweging of positie van de sonde [10]

  • G01Q 10/02

    Grove aftasting of positionering [10]

  • G01Q 10/04

    Fijne aftasting of positionering [10]

    • G01Q 10/06

      Schakelingen of algoritmen daarvoor [10]

• G01Q 20/00

  Bewaken van de beweging of positie van de sonde [10]

  • G01Q 20/02

    door optische middelen [10]

  • G01Q 20/04

    Zichzelf detecterende sondes, d.w.z. waarin de sonde zelf een signaal opwekt dat representatief is voor haar positie, bijv. een piëzo-elektrische meter [10]

• G01Q 30/00

  Hulpmiddelen die dienen ter ondersteuning of verbetering van de aftastsonde-technieken of aftastsonde-apparatuur, bijv. weergeefinrichtingen of gegevensverwerkingsinrichtingen [10]

  • G01Q 30/02

    Analyse-inrichtingen anders dan met SPM (microscopie met aftatssondes), bijv. een SEM (microscopie met elektronenaftasting), een spectrometer of een optische microscoop [10]

  • G01Q 30/04

    Weergeefinrichtingen of gegevensverwerkingsinrichtingen [10]

    • G01Q 30/06

      om fouten te compenseren [10]

  • G01Q 30/08

    Middelen voor het tot stand brengen of regelen van een gewenste omgevingstoestand binnen een monsterkamer [10]

    • G01Q 30/10

      Warmte-omgeving [10]

    • G01Q 30/12

      Fluïdumomgeving [10]

      • G01Q 30/14

        Vloeistofomgeving [10]

    • G01Q 30/16

      Vacuümomgeving [10]

  • G01Q 30/18

    Middelen voor het beschermen of isoleren van de binnenzijde van een monsterkamer tegen externe omgevingstoestanden of omgevingsinvloeden, bijv. trillingen of elektromagnetische velden [10]

  • G01Q 30/20

    Inrichtingen of methoden voor het hanteren van monsters [10]

• G01Q 40/00

  IJken, bijv. van sondes [10]

  • G01Q 40/02

    IJkstandaarden of vervaardigingsmethoden daarvan [10]

• G01Q 60/00

  Bijzondere soorten SPM (microscopie met aftastsondes) of apparatuur daarvoor; Essentiële onderdelen daarvan [10]

  • G01Q 60/02

    Meervoudige SPM (Microscopie met aftastsondes), d.w.z. waarbij sprake is van twee of meer SPM-technieken [10]

    • G01Q 60/04

      STM (microscopie met tunnelaftasting) gecombineerd met AFM (microscopie met atoomenergie) [10]

    • G01Q 60/06

      SNOM (microscopie met optische nabijheidsaftasting) gecombineerd met AFM (microscopie met atoomenergie) [10]

    • G01Q 60/08

      MFM (microscopie met magneetkracht) gecombineerd met AFM (microscopie met atoomenergie) [10]

  • G01Q 60/10

    STM (microscopie met tunnelaftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. STM-sondes [10]

    • G01Q 60/12

      STS (spectroscopie met tunnelaftasting) [10]

    • G01Q 60/14

      STP (potentiometrie met tunnelaftasting) [10]

    • G01Q 60/16

      Sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, bijv. houders [10]

  • G01Q 60/18

    SNOM (microscopie met optische nabijheidsaftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. SNOM-sondes [10]

    • G01Q 60/20

      Fluorescentie [10]

    • G01Q 60/22

      Sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, bijv. houders [10]

  • G01Q 60/24

    AFM (microscopie met atoomenergie) of apparatuur daarvoor, bijv. AFM-sondes [10]

    • G01Q 60/26

      Microscopie met wrijvingskrachten [10]

    • G01Q 60/28

      Microscopie met hechtingskrachten [10]

    • G01Q 60/30

      Microscopie met potentiaalaftasting [10]

    • G01Q 60/32

      Wisselstroommodus [10]

      • G01Q 60/34

        Aftakmodus [10]

    • G01Q 60/36

      Gelijkstroommodus [10]

    • G01Q 60/38

      Sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, bijv. houders [10]

      • G01Q 60/40

        Geleidende sondes [10]

      • G01Q 60/42

        Functionalisering [10]

  • G01Q 60/44

    SICM (microscopie met ionengeleidingsaftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. SICM-sondes [10]

  • G01Q 60/46

    SCM (microscopie met capacitaire aftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. SCM-sondes [10]

    • G01Q 60/48

      Sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, bijv. houders [10]

  • G01Q 60/50

    MFM (microscopie met magneetkracht) of apparatuur daarvoor, bijv. MFM-sondes [10]

    • G01Q 60/52

      Resonantie [10]

    • G01Q 60/54

      Sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, bijv. houders [10]

      • G01Q 60/56

        Sondes met een magnetische coating [10]

  • G01Q 60/58

    SThM (microscopie met warmte-aftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. SThM-sondes [10]

  • G01Q 60/60

    SECM (microscopie met elektrochemische aftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. SECM-sondes [10]

• G01Q 70/00

  Algemene aspecten van SPM (microscopie met aftastsondes) sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, voorzover zij niet speciaal zijn aangepast aan één enkele SPM-techniek die valt onder de groep G01Q 60\5 [10]

  • G01Q 70/02

    Sondehouders [10]

    • G01Q 70/04

      met compensatie voor temperatuurfouten of trilfouten [10]

  • G01Q 70/06

    Sondepunt-rijen [10]

  • G01Q 70/08

    Sondekenmerken [10]

    • G01Q 70/10

      Vorm of verloop [10]

      • G01Q 70/12

        Nanobuispunten [10]

    • G01Q 70/14

      Bijzondere materialen [10]

  • G01Q 70/16

    Sondevervaardiging [10]

    • G01Q 70/18

      Meervoudige [10]

• G01Q 80/00

  Toepassingen van aftastsondetechnieken, anders dan met SPM (microscopie met aftastsondes) (produceren of behandelen van microstructuren B81C; produceren of behandelen van nanostructuren B82B 3\5; registreren of reproduceren van informatie gebruikmakend van nabijheidsinteractie G11B 9\5, G11B 11\5 of G11B 13\5) [10]

• G01Q 90/00

  Niet elders ondergebrachte aftastsonde-technieken of aftastsonde-apparatuur [10]